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利用X射线荧光光谙分析鉴定瓷器
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,十多年以后,科学家巴克拉发现当物质受到X射线照射时,会发射次级X线,各种物质的不同次级X射线均与自身固有的特征有关,后来这种次级射线被称为"X线荧光"。1914年,科学家莫塞莱系统地研究了不同元素特征的X线荧光,发现X荧光的波长和它的原子序数之间存在一定的关系,由此建立了 X射线荧光光谱分析法。以后,随着电子技术和X线强度测量方法的发展,以及高功率X线产生装置的研制成功,X射线荧光光谱分析技术有了较快的发展,被应用到生物、医学、环境、材料学等领域。
 
X射线荧光光谱分析的仪器可分为"波长色散X射线荧光光谱仪"和"能量色散X射线荧光光谱仪"两大类。能量色散X射线荧光分析是一种快速、无损、可多元素同时测定的现代测试分析技术,它主要检测分析样品外表很薄的表面层,具有无损检测、分析速度快、精确度高、自动化程度高和操作简便等优点,因而用于瓷器鉴定的,一般是用能量色散X射线荧光光谱仪。

按照激发光源的不同,能量色散X射线荧光光谱分析又有"X射线管型能量色散X射线荧光分析"、"质子激发能量色散X射线荧光分析"和"同步辐射光源激发能量色散X射线荧光分析"三种。X射线管型能量色散X射线荧光分析仪结构紧凑,价格便宜,体量小,结果可靠,安装、使用与维修均方便,虽某些元素分析灵敏度不如其他两种,但已足够满足陶瓷鉴定应用之需,因而成为目前陶瓷鉴定中应用最广的分析技术设备。质子激发能量色散X射线荧光分析虽具有灵敏度高、准确度好,以及多元素同时分析等优点,但稳定性目前尚不
如X射线管型能量色散X射线荧光分析仪,还有设备昂贵、操作复杂、测试成本高等缺点。同步辐射光源激发能量色散X射线荧光分析技术也存在设备费用昂贵、测试成本高(测量需要大型电子加速器)、元素测量误差较大等缺陷。

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